Análisis de polvo y dispersión. Desarrollo de formulaciones y pruebas de pigmentos
sólidos
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Tecnología de medición de partículas
La distribución del tamaño de las partículas y form tiene una gran influencia en las propiedades, la calidad y el proceso del producto, transport and0-95c95dec_and0-95c95dec_cc781905-almacenamiento -3b -136bad5cf58d_behavior.
For characterization, different measuring techniques are available. We measure Particle Size Distribuciones hasta el campo sub-100nm.
Difracción láser estática (ISO 13320)
La luz láser que se dispersa en partículas es detectada en diferentes ángulos.
El patrón detectado de luz difractada y dispersada se calcula en distribuciones de tamaño de partículas basadas en la masa.
Rango de medición: 40nm a 2000µm
Preparación de muestras: Dry or húmedo
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Optimal área de aplicación para partículas entre 50nm y 1000 micras.
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Aplicación universal para sustancias puras y mezclas de polvo.
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Los resultados son distribuciones de tamaño de partículas basadas en volumen.
PSDA por difracción láser
Dispersión de luz dinámica DLS (ISO 13321)
Derivación del tamaño de partícula a partir de la velocidad de difusión de las partículas en dispersión. La dispersión se irradia con luz láser y la luz dispersada se detecta en ángulos grandes (90° y 180°). la velocidad de difusión of partículas se correlaciona con la fluctuación de signals, por lo que pequeñas partículas generan una fluctuación de señal rápida. El resultado es la distribución de intensidad.
Rango de medición: 0,5 nm a 10 µm
Preparación de la muestra: Húmeda y muy diluida
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Área de aplicación óptima para partículas <1000nm.
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Elaborada preparación de muestras (dilución, filtración, estabilización de partículas)
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La medición depende de la viscosidad y la temperatura.
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Superposición de señales débiles de nanopartículas a través de señales intensivas de partículas grandes. Eso significa que no es posible el análisis de nanopartículas en presencia de partes gruesas.
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Los resultados son distribuciones de tamaño de partícula basadas en la intensidad.
Recuento de partículas Medición de impedancia (ISO 13319)
Un método basado en el principio de la medición de la impedancia. El cambio de resistencia mientras las partículas pasan por la zona de medición es proporcional al volumen de partículas.
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Rango de medición: 0,2 µm a 1600 µm
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Preparación de la muestra: Húmedo
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Detención de "Tamaño de granulado" posible
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El método es adecuado para mediciones de distribuciones de tamaño de partícula muy estrechas
Micro- und Nanoanalysis _cc781905- 5cde-3194-bb3b-136bad5cf58d_ _cc781905-5cde-3194-bb3b -136bad5cf58d_ _cc781905-5cde -3194-bb3b-136bad5cf58d_ _cc781905-5cde-3194-bb3b- c c781905-5cde-3194-bb3b-136bad5cf58d_ _cc781905-5cde-3194 -bb3b-136bad5cf58d_ _cc781905 -5cde-3194-bb3b-136bad5cf58d_ _cc781905-5cde-3194- bb3b-136bad5cf58d_ _cc781905- 5cde-3194-bb3b-136bad5cf58d_
Los métodos para el análisis de superficies son la espectroscopia de fotoelectrones de rayos X XPS y Scanning Electronmicroscopie SEM. Se pueden utilizar para analizar la composición química y los estados de unión. Es posible registrar perfiles profundos adicionales. Los métodos funcionan en escalas micro, sub 100 nanómetros y nanómetros.
Espectroscopía de fotoelectrones de rayos X XPS
Usando XPS se analiza la composición química composition de la superficie de powder. El resultado es la distribución de sustancias químicas. Con la técnica de pulverización catódica de Ar, se puede eliminar la superficie de los sólidos. Por lo tanto, se puede medir el cambio de concentración que depende de la profundidad del perfil.
Se puede investigar la composición química, química estructura y estados de unión in micron.
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Chemical 2D card of a XPS análisis de superficie
Análisis químico
Detección de elementos ICP-OES
Digestion of your powder sample according DIN EN 13656 and semiquantitative overview analysis_cc781905-5cde -3194-bb3b-136bad5cf58d_using ICP-OES according DIN EN ISO 11885._d04a07d8-9cd1-3239- 9149-20813d6c673b_
El resultado del análisis es semiquantitative element screening of 69 elementos.
Análisis RFA
Análisis general de estado sólido según DIN EN 15309
El resultado del análisis es a semiquantitative element screening (metales)
