Análisis de polvo y dispersión. Desarrollo de formulaciones y pruebas de pigmentos

Difracción láser estática (ISO 13320)

La luz láser dispersada por las partículas se detecta en diferentes ángulos.

Los patrones de difracción y luz dispersa registrados se convierten en distribuciones de tamaño de partículas basadas en la masa utilizando algoritmos matemáticos.

 

Rango de medición: 40nm a 2000µm

Preparación de muestras: medición en seco y/o medición en húmedo

 

• Rango de aplicación óptimo para partículas de 100 nm a 100 µm

• Método de aplicación universal para mezclas de polvo y sustancias puras

•  Simple Preparación de muestra como suspensión y polvo  

• Sustancias puras con propiedades ópticas conocidas hasta Tamaños de partículas de 40nm medibles.

• Las dispersiones se pueden medir a partir de una concentración de sólidos de alrededor del 0,5 % en volumen

• Salida de distribuciones de tamaño de partículas distribuidas en volumen.

 

Dispersión de luz dinámica DLS (ISO 13321)

Derivación del tamaño de partícula a partir de la velocidad de difusión con la que se mueven las partículas en una suspensión o emulsión. La suspensión se irradia con luz láser y la luz dispersada se detecta en ángulos grandes (90° y 180°). La velocidad de movimiento de las partículas se correlaciona con la fluctuación de la señal, y las partículas pequeñas producen una rápida fluctuación de la señal. El resultado es una distribución de intensidad.

 

Rango de medición: 0,5nm a 10µm

Preparación de muestras: medición húmeda

 

• Rango de aplicación óptimo para partículas <100nm

• Elaborada preparación de muestras (dilución, filtración, estabilización de las partículas)

• La medición depende de la viscosidad y la temperatura.

• Superposición de las señales de nanopartículas más débiles por señales fuertes de contaminación de partículas gruesas. Es decir, el análisis de nanopartículas no es posible en presencia de partículas gruesas.

• Salida de distribuciones de tamaño de partículas distribuidas por intensidad

Método de medición de impedancia de conteo de partículas (ISO 13319)

Un método de conteo de partículas basado en el principio del método de medición de impedancia. El cambio de resistencia cuando las partículas pasan a través de la zona de medición es proporcional al volumen de partículas.

 

• Rango de medición: 0,2 µm a 1600 µm  

• Preparación de muestras: medición húmeda

• Detección de "sobredimensionado"

• Método adecuado para medir distribuciones de tamaño de partículas muy estrechas

• Numerosos capilares disponibles para un amplio rango de medición.

Mikro- und Nanoanalyse           _cc781905 -5cde-3194-bb3b-136bad5cf58d_         _cc781905-5cde-3194- bb3b-136bad5cf58d_           _cc781905- 5cde-3194-bb3b-136bad5cf58d_         _cc781905-5cde-3194-bb3b -136bad5cf58d_       _c c781905-5cde-3194-bb3b-136bad5cf58d_         _cc781905-5cde-3194 -bb3b-136bad5cf58d_           _cc781905 -5cde-3194-bb3b-136bad5cf58d_         _cc781905-5cde-3194- bb3b-136bad5cf58d_           _cc781905- 5cde-3194-bb3b-136bad5cf58d_      

Los métodos de microscopía electrónica de barrido TOF-SIMS, Microfocus XPS y Auger utilizados para el análisis de superficies son adecuados para analizar la composición química, la estructura y los estados de unión de materiales inorgánicos y orgánicos. Además, es posible el registro de mapas bidimensionales químicos y el registro de perfiles de profundidad. Los métodos son complementarios entre sí ya que funcionan en las escalas micro, sub 100 nanómetro y nanómetro. 

Espectrómetro de fotoelectrones de rayos X de microfoco XPS

Con microfocus XPS se determina la composición química local de la superficie de una muestra (por ejemplo, mapa químico de nanopartículas). Se pueden distinguir diferentes elementos y se pueden describir los estados de unión. Los resultados son perfiles de intensidad bidimensionales que reflejan la distribución local de los compuestos químicos. La superficie se puede eliminar mediante pulverización catódica con iones de Ar. Las capas de óxido se eliminan y queda una capa pura sin oxidar. De esta manera se puede medir un cambio en la concentración de elementos al aumentar la profundidad de la capa.

 

Composición química, estructura química y estados de enlace en el rango de micras.

 

• Análisis de materiales inorgánicos y orgánicos.

• Identificación de estados de unión y oxidación.

• mapeo 2D

• Creación de perfiles de profundidad

• Numerosos sistemas de muestra (metales y aleaciones, polímeros, cerámica)

 

Sensitivity:           _cc781905-5cde -3194-bb3b-131cf5d5b-1 %1 átomo

Profundidad de la información:     1nm a 10nm

Resolución lateral:  < 10 µm

Perfilado de profundidad:    Hasta 1nm vertical   resolución

Análisis químico

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Detección de elementos ICP-OES

Druckaufschluss der Pulverprobe nach DIN EN 13656 und semiquantitative Übersichtsanalyse _cc781905-5cde-3194 -bb3b-136bad5cf58d_mediante ICP-OES según DIN EN ISO DIN EN 11885.

El resultado del análisis es obtienes un s​​emiquantitative Solid Analysis Element screening de 69 elementos.

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análisis RFA

solid Análisis general basado en DIN EN 15309.

Recibirá una evaluación de elementos semicuantitativos (metales) como resultado del análisis.

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