Analyse de poudre et de dispersion. Développement de formulations et tests de pigments
Technologie de mesure des particules
La distribution de la taille des particules et form a une grande influence sur les propriétés, la qualité et le processus du produit, transport_cc781905-5cde-3194-bb3b-136bad5cf59cde-951905_et le stockage_cc781905- -3b -136bad5cf58d_behavior.
For characterization, different measuring techniques are available. We measure Particle Size Distributions jusqu'au champ inférieur à 100 nm.
Diffraction laser statique (ISO 13320)
La lumière laser diffusée sur les particules est détectée à angles différents.
Le motif détecté de la lumière diffractée et diffusée est calculé en distributions granulométriques basées sur la masse.
Plage de mesure : 40 nm à 2 000 µm
Préparation des échantillons : Dry or wet
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Optimal domaine d'application pour les particules entre 50nm et 1000 microns.
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Application universelle pour les substances pures et les mélanges de poudres.
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Les résultats sont des distributions granulométriques basées sur le volume.
PSDA par diffraction laser
DLS à diffusion dynamique de la lumière (ISO 13321)
Dérivation de la taille des particules à partir de la vitesse de diffusion des particules en dispersion. La dispersion est rayonnée avec une lumière laser et la lumière diffusée est détectée à de grands angles (90° et 180°). la vitesse de diffusion des particules est en corrélation avec la fluctuation des signals, où small particules génère une fluctuation rapide du signal. Le résultat est la distribution d'intensité.
Plage de mesure : 0,5 nm à 10 µm
Préparation de l'échantillon : Humide et fortement dilué
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Zone d'application optimale pour les particules <1000nm.
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Préparation élaborée des échantillons (dilution, filtration, stabilisation des particules)
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La mesure dépend de la viscosité et de la température.
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Superposition des signaux faibles des nanoparticules aux signaux intensifs des grosses particules. Cela signifie que l'analyse des nanoparticules en présence d'actions grossières n'est pas possible.
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Les résultats sont des distributions granulométriques basées sur l'intensité.
Comptage de particules Mesure d'impédance (ISO 13319)
Une méthode basée sur le principe de la mesure d'impédance. Le changement de résistance pendant que les particules passent dans la zone de mesure est proportionnel au volume de particules.
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Plage de mesure : 0,2 µm à 1600 µm
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Préparation de l'échantillon : Humide
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Détention de "Taille de surgrain" possible
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La méthode convient aux mesures de distributions granulométriques très étroites
Micro- und Nanoanalysis _cc781905- 5cde-3194-bb3b-136bad5cf58d_ _cc781905-5cde-3194-bb3b -136bad5cf58d_ _cc781905-5cde -3194-bb3b-136bad5cf58d_ _cc781905-5cde-3194-bb3b- 136bad5cf58d_ _c c781905-5cde-3194-bb3b-136bad5cf58d_ _cc781905-5cde-3194 -bb3b-136bad5cf58d_ _cc781905 -5cde-3194-bb3b-136bad5cf58d_ _cc781905-5cde-3194- bb3b-136bad5cf58d_ _cc781905- 5cde-3194-bb3b-136bad5cf58d_
Les méthodes d'analyse de surface sont la spectroscopie photoélectronique à rayons X XPS et Scanning Electronmicroscopie SEM. Ils sont utilisables pour analyser la composition chimique et les états de liaison. De plus, l'enregistrement de profils profonds est possible. Les méthodes fonctionnent sur des échelles micro, inférieures à 100 nanomètres et nanomètres.
Spectroscopie photoélectronique par rayons X XPS
En utilisant XPS, la composition_chimique de la surface de powder est analysée. Le résultat est la distribution de substances chimiques. Avec la technique de pulvérisation d'Ar, la surface des solides peut être éliminée. Ainsi, le changement de concentration en fonction du profil en profondeur peut être mesuré.
La composition chimique, la structure chimique et les états de liaison in micron peuvent être étudiées.
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Chemical 2D card of a XPS analyse de surface
Analyse chimique
Dépistage des éléments ICP-OES
Digestion of your powder sample according DIN EN 13656 and semiquantitative overview analysis_cc781905-5cde -3194-bb3b-136bad5cf58d_using ICP-OES according DIN EN ISO 11885._d04a07d8-9cd1-3239- 9149-20813d6c673b_
Le résultat de l'analyse est un semiquantitative element screening of 69 éléments.
Analyse RFA
Analyse globale de l'état solide selon DIN EN 15309
Le résultat de l'analyse est a semiquantitative element screening (métaux)
