Analyse de poudre et de dispersion. Développement de formulations et tests de pigments

Diffraction laser statique (ISO 13320)

La lumière laser diffusée par les particules est détectée sous différents angles.

Les modèles de diffraction et de lumière diffusée enregistrés sont convertis en distributions granulométriques basées sur la masse à l'aide d'algorithmes mathématiques.

 

Plage de mesure : 40nm à 2000µm

Préparation des échantillons : mesure sèche et/ou mesure humide

 

• Plage d'application optimale pour les particules de 100 nm à 100 µm

• Méthode universellement applicable pour les mélanges de poudres et les substances pures

•  Simple Préparation d'échantillon sous forme de suspension et de poudre  

• Substances pures aux propriétés optiques connues jusqu'à Tailles de particules de 40 nm mesurables.

• Les dispersions peuvent être mesurées à partir d'une concentration en solides d'environ 0,5 % en volume

• Sortie des distributions granulométriques distribuées en volume.

 

DLS à diffusion dynamique de la lumière (ISO 13321)

Dérivation de la taille des particules à partir de la vitesse de diffusion avec laquelle les particules se déplacent dans une suspension ou une émulsion. La suspension est irradiée par une lumière laser et la lumière diffusée est détectée sous de grands angles (90° et 180°). La vitesse de déplacement des particules est en corrélation avec la fluctuation du signal, les petites particules produisant une fluctuation rapide du signal. Le résultat est une distribution d'intensité.

 

Plage de mesure : 0,5 nm à 10 µm

Préparation des échantillons : mesure humide

 

• Plage d'application optimale pour les particules <100 nm

• Préparation élaborée des échantillons (dilution, filtration, stabilisation des particules)

• La mesure dépend de la viscosité et de la température

• Superposition des signaux de nanoparticules plus faibles par des signaux forts provenant de la contamination par des particules grossières. C'est-à-dire que l'analyse des nanoparticules n'est pas possible en présence de particules grossières.

• Sortie des distributions granulométriques distribuées en intensité

Méthode de mesure d'impédance par comptage de particules (ISO 13319)

Une méthode de comptage de particules basée sur le principe de la méthode de mesure d'impédance. La variation de résistance lorsque les particules traversent la zone de mesure est proportionnelle au volume des particules.

 

• Plage de mesure : 0,2 µm à 1600 µm  

• Préparation des échantillons : mesure humide

• Détection de "surdimensionné"

• Méthode appropriée pour mesurer des distributions granulométriques très étroites

• De nombreux capillaires sont disponibles pour une large plage de mesure.

Mikro- und Nanoanalyse           _cc781905 -5cde-3194-bb3b-136bad5cf58d_         _cc781905-5cde-3194- bb3b-136bad5cf58d_           _cc781905- 5cde-3194-bb3b-136bad5cf58d_         _cc781905-5cde-3194-bb3b -136bad5cf58d_       _c c781905-5cde-3194-bb3b-136bad5cf58d_         _cc781905-5cde-3194 -bb3b-136bad5cf58d_           _cc781905 -5cde-3194-bb3b-136bad5cf58d_         _cc781905-5cde-3194- bb3b-136bad5cf58d_           _cc781905- 5cde-3194-bb3b-136bad5cf58d_      

Les méthodes de microscopie électronique à balayage TOF-SIMS, Microfocus XPS et Auger utilisées pour l'analyse de surface conviennent à l'analyse de la composition chimique, de la structure et des états de liaison des matériaux inorganiques et organiques. De plus, l'enregistrement de cartes chimiques bidimensionnelles et l'enregistrement de profils de profondeur sont possibles. Les méthodes sont complémentaires les unes des autres car elles fonctionnent aux échelles micro, inférieures à 100 nanomètres et nanomètres. 

Spectromètre photoélectronique à rayons X Microfocus XPS

Avec microfocus XPS, la composition chimique locale de la surface d'un échantillon (par exemple la carte chimique des nanoparticules) est déterminée. Différents éléments peuvent être distingués et les états de liaison peuvent être décrits. Les résultats sont des profils d'intensité bidimensionnels qui reflètent la distribution locale des composés chimiques. La surface peut être enlevée par pulvérisation avec des ions Ar. Les couches d'oxyde sont éliminées et il reste une couche pure et non oxydée. Un changement dans la concentration d'éléments avec une profondeur de couche croissante peut être mesuré de cette manière.

 

Composition chimique, structure chimique et états de liaison dans la gamme du micron.

 

• Analyse des matériaux inorganiques et organiques.

• Identification des états de liaison et d'oxydation.

• Cartographie 2D

• Création de profils de profondeur

• Nombreux systèmes d'échantillonnage (métaux et alliages, polymères, céramiques)

 

Sensitivity:           _cc781905-5cde -3194-bb3b-131cf5d5b-1 %1 atome

Profondeur des informations :     1nm à 10nm

Résolution latérale :  < 10µm

Profilage de profondeur :    Jusqu'à 1 nm vertical   résolution

Analyse chimique

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Dépistage des éléments ICP-OES

Druckaufschluss der Pulverprobe nach DIN EN 13656 und semiquantitative Übersichtsanalyse _cc781905-5cde-3194 -bb3b-136bad5cf58d_au moyen de ICP-OES selon DIN EN ISO DIN EN 11885.

Le résultat de l'analyse est vous obtenez un s​​emiquantitative Solid Analysis Criblage d'éléments de 69 éléments.

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Analyse RFA

solid Analyse globale basée sur la norme DIN EN 15309.

Vous recevrez un dépistage semi-quantitatif des éléments (métaux) comme résultat d'analyse.

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