Analisi della polvere e della dispersione. Sviluppo di formulazioni e test sui pigmenti
solidi
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Tecnologia di misurazione delle particelle
La distribuzione delle dimensioni delle particelle e form ha una grande influenza sulle proprietà, sulla qualità e sul processo del prodotto, transport e storage_cc79195cde-3 -3b -136bad5cf58d_behavior.
For characterization, different measuring techniques are available. We measure Particle Size Distribuzioni fino al campo inferiore a 100 nm.
Diffrazione laser statica (ISO 13320)
La luce laser che viene diffusa dalle particelle è detected at diverse angolazioni.
Il modello rilevato di luce diffratta e diffusa viene calcolato in distribuzioni granulometriche basate sulla massa.
Intervallo di misurazione: da 40 nm a 2000 µm
Preparazione del campione: Dry or wet
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Optimal area di applicazione per particelle tra 50nm e 1000 micron.
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Applicazione universale per sostanze pure e miscele di polveri.
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I risultati sono distribuzioni granulometriche basate sul volume.
PSDA mediante diffrazione laser
Diffusione dinamica della luce DLS (ISO 13321)
Derivazione granulometrica dalla velocità di diffusione delle particelle in dispersione. La dispersione viene irradiata con luce laser e la luce diffusa viene rilevata ad ampi angoli (90° e 180°). la velocità di diffusione delle particelle è correlata alla fluttuazione dei segnali, per cui piccole particelle genera una rapida fluttuazione del segnale. Il risultato è la distribuzione dell'intensità.
Intervallo di misurazione: da 0,5 nm a 10 µm
Preparazione del campione: umido e altamente diluito
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Area di applicazione ottimale per particelle <1000nm.
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Elaborata preparazione del campione (diluizione, filtrazione, stabilizzazione delle particelle)
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La misurazione dipende dalla viscosità e dalla temperatura.
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Sovrapposizione di segnali deboli da nanoparticelle attraverso segnali intensi di grandi particelle. Ciò significa che l'analisi delle nanoparticelle in presenza di quote grossolane non è possibile.
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I risultati sono distribuzioni granulometriche basate sull'intensità.
Conteggio delle particelle Misurazione dell'impedenza (ISO 13319)
Un metodo basato sul principio della misurazione dell'impedenza. Il cambio di resistenza mentre le particelle attraversano la zona di misurazione è proporzionale al volume delle particelle.
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Campo di misura: da 0,2 µm a 1600 µm
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Preparazione del campione: umido
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Detenzione di "Dimensione del grano in eccesso" possibile
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Il metodo è adatto per misurazioni di distribuzioni granulometriche molto strette
Micro- und Nanoanalysis _cc781905- 5cde-3194-bb3b-136bad5cf58d_ _cc781905-5cde-3194-bb3b -136bad5cf58d_ _cc781905-5cde -3194-bb3b-136bad5cf58d_ _cc781905-5cde-3194-bb3b- 136bad5cf58d_ _c c781905-5cde-3194-bb3b-136bad5cf58d_ _cc781905-5cde-3194 -bb3b-136bad5cf58d_ _cc781905 -5cde-3194-bb3b-136bad5cf58d_ _cc781905-5cde-3194- bb3b-136bad5cf58d_ _cc781905- 5cde-3194-bb3b-136bad5cf58d_
I metodi per l'analisi della superficie sono X-Ray Photo Electron Spectroscopy XPS e Scanning Electronmicroscopie SEM. Sono utilizzabili per l'analisi della composizione chimica e degli stati di legame. Inoltre è possibile la registrazione del profilo profondo. I metodi funzionano su scale micro, inferiori a 100 nanometri e nanometri.
Spettroscopia fotoelettronica a raggi X XPS
Utilizzando XPS viene analizzata la composizione chimica della superficie di powder. Il risultato è la distribuzione di sostanze chimiche. Con la tecnica Ar-sputtering è possibile rimuovere la superficie dei solidi. Quindi è possibile misurare il cambiamento di concentrazione dipendente dal profilo in profondità.
È possibile esaminare la composizione chimica, la struttura chimica structure e gli stati di legame in micron.
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Chemical 2D card of a XPS analisi superficiale
Analisi chimica
Screening degli elementi ICP-OES
Digestion of your powder sample according DIN EN 13656 and semiquantitative overview analysis_cc781905-5cde -3194-bb3b-136bad5cf58d_using ICP-OES according DIN EN ISO 11885._d04a07d8-9cd1-3239- 9149-20813d6c673b_
Il risultato dell'analisi è un semiquantitative element screening of 69 elementi.
Analisi RFA
Analisi panoramica dello stato solido secondo DIN EN 15309
Il risultato dell'analisi è a semiquantitative element screening (metalli)
