Analiza proszku i dyspersji. Opracowywanie receptur i testowanie pigmentów
Technologia pomiaru cząstek
Rozkład wielkości cząstek i form ma duży wpływ na właściwości produktu, jakość i proces, transport_cc781905-5cde-3194-bb3b-5cde5cf58d_and storage_cc781 -3b -136bad5cf58d_behavior.
For characterization, different measuring techniques are available. We measure Particle Size Dystrybucje do pola poniżej 100 nm.
Statyczna dyfrakcja laserowa (ISO 13320)
Światło lasera rozproszone na cząstkach jest wykrywane pod różnymi kątami.
Wykryty wzór ugiętego i rozproszonego światła jest obliczany na podstawie rozkładu wielkości cząstek na podstawie masy.
Zakres pomiarowy: 40nm do 2000µm
Przygotowanie próbki: Dry or wet
-
Optimal obszar aplikacji dla cząstek o wielkości od 50 nm do 1000 mikronów.
-
Uniwersalne zastosowanie do czystych substancji i mieszanin proszków.
-
Wyniki to objętościowe rozkłady wielkości cząstek.
PSDA metodą dyfrakcji laserowej
Dynamiczne rozpraszanie światła DLS (ISO 13321)
Wyprowadzenie wielkości cząstek z prędkości dyfuzji cząstek w dyspersji. Dyspersja jest emitowana za pomocą światła laserowego, a światło rozproszone jest wykrywane pod dużymi kątami (90° i 180°). prędkość dyfuzji of cząstek koreluje z fluktuacją signals, przy czym signals generuje szybki sygnał fluktuacji. Wynikiem jest rozkład intensywności.
Zakres pomiarowy: od 0,5nm do 10µm
Przygotowanie próbki: Mokra i mocno rozcieńczona
-
Optymalny obszar zastosowania dla cząstek <1000nm.
-
Skomplikowane przygotowanie próbki (rozcieńczanie, filtracja, stabilizacja cząstek)
-
Pomiar zależy od lepkości i temperatury.
-
Nakładanie słabych sygnałów z nanocząstek na intensywne sygnały dużych cząstek. Oznacza to, że analiza nanocząstek w obecności grubych udziałów nie jest możliwa.
-
Wyniki to oparte na intensywności rozkłady wielkości cząstek.
Liczenie cząstek Pomiar impedancji (ISO 13319)
Metoda oparta na zasadzie pomiaru impedancji. Zmiana oporu podczas przechodzenia cząstek przez strefę pomiarową jest proporcjonalna do objętości cząstek.
-
Zakres pomiarowy: od 0,2 µm do 1600 µm
-
Przygotowanie próbki: mokre
-
Możliwe zatrzymanie „Wielkość ziarna”
-
Metoda jest odpowiednia do pomiarów bardzo wąskich rozkładów wielkości cząstek
Micro- und Nanoanalysis _cc781905- 5cde-3194-bb3b-136bad5cf58d_ _cc781905-5cde-3194-bb3b -136bad5cf58d_ _cc781905-5cde -3194-bb3b-136bad5cf58d_ _cc781905-5cde-3194-bb3b- 136bad5cf58d_ _c c781905-5cde-3194-bb3b-136bad5cf58d_ _cc781905-5cde-3194 -bb3b-136bad5cf58d_ _cc781905 -5cde-3194-bb3b-136bad5cf58d_ _cc781905-5cde-3194- bb3b-136bad5cf58d_ _cc781905- 5cde-3194-bb3b-136bad5cf58d_
Metody analizy powierzchni to X-Ray Photo Electron Spectroscopy XPS i Scanning Electronmicroscopie SEM. Są przydatne do analizy składu chemicznego i stanów wiązania. Dodatkowo możliwe jest rejestrowanie profilu głębokiego. Metody działają w skali mikro, poniżej 100 nanometrów i nanometrów.
Spektroskopia fotoelektronowa rentgenowska XPS
Za pomocą XPS analizowany jest skład chemiczny powierzchni powder. Rezultatem jest dystrybucja substancji chemicznych. Dzięki technice napylania argenowego można usunąć powierzchnię ciał stałych. Można więc zmierzyć zmianę stężenia w zależności od głębokości profilu.
Można zbadać skład chemiczny, strukturę chemiczną strukturę i stany wiązania in mikron.
-
Chemical 2D card of a XPS analiza powierzchni
Analiza chemiczna
Badanie elementów ICP-OES
Digestion of your powder sample according DIN EN 13656 and semiquantitative overview analysis_cc781905-5cde -3194-bb3b-136bad5cf58d_using ICP-OES according DIN EN ISO 11885._d04a07d8-9cd1-3239- 9149-20813d6c673b_
Wynikiem analizy jest semiquantitative element screening of 69 elementów.
Analiza RFA
Przeglądowa analiza ciała stałego zgodnie z normą DIN EN 15309
Wynik analizy to a semiquantitative element screening (metale)
