Toz ve dispersiyon analizi. Formülasyonların geliştirilmesi ve pigment testi
Parçacık Ölçüm Teknolojisi
Parçacık boyutunun dağılımı ve form ürün özellikleri, kalitesi ve süreci üzerinde büyük bir etkiye sahiptir, transport_cc781905-5cde-3194-bb3b-136-bad5cf90-958d_ve depolama_5cc781 -3b -136bad5cf58d_behavior.
For characterization, different measuring techniques are available. We measure Particle Size 100 nm altı alana kadar dağılımlar.
Statik Lazer Kırınımı (ISO 13320)
Parçacıklara saçılan lazer ışığı, farklı açılarda algılandı.
Kırılan ve saçılan ışığın algılanan modeli, kütleye dayalı parçacık boyutu dağılımlarında hesaplanır.
Ölçüm Aralığı: 40nm ila 2000µm
Örnek hazırlama: Dry or wet
-
Optimal 50nm ile 1000 mikron arasındaki parçacıklar için uygulama alanı.
-
Saf maddeler ve toz karışımlar için evrensel uygulama.
-
Sonuçlar, hacme dayalı parçacık boyutu dağılımlarıdır.
Lazer kırınımı ile PSDA
Dinamik Işık Saçılımı DLS (ISO 13321)
Dağılımdaki parçacıkların difüzyon hızından türetme parçacık boyutu. Dispersiyon lazer ışığı ile ışınlanır ve saçılan ışık geniş açılarda (90° ve 180°) algılanır. parçacıkların yayılma hızı cc781905-5cde-3194-bb3b-136bad5cf58d_sinyallerinin dalgalanması ile ilişkilidir, burada small parçacıkları hızlı bir sinyal dalgalanması oluşturur. Sonuç, yoğunluk dağılımıdır.
Ölçüm Aralığı: 0.5nm ila 10µm
Numune hazırlama: Islak ve yüksek oranda seyreltilmiş
-
<1000nm partiküller için optimum uygulama alanı.
-
Ayrıntılı numune hazırlama (seyreltme, filtrasyon, partiküllerin stabilizasyonu)
-
Ölçüm viskozite ve sıcaklığa bağlıdır.
-
Nanoparçacıklardan gelen zayıf sinyallerin, büyük parçacıkların yoğun sinyalleriyle üst üste bindirilmesi. Bu, kaba payların katılımıyla nanopartiküllerin analizinin mümkün olmadığı anlamına gelir.
-
Sonuçlar, yoğunluğa dayalı parçacık boyutu dağılımlarıdır.
Parçacık Sayımı Empedans ölçümü (ISO 13319)
Empedans ölçümü ilkesine dayalı bir yöntem. Parçacıklar ölçüm bölgesinden geçerken direncin değişimi, parçacıkların hacmiyle orantılıdır.
-
Ölçüm aralığı: 0,2 µm - 1600 µm
-
Numune hazırlama: Islak
-
Gözaltı "Gözaltı boyutu" mümkün
-
Yöntem, çok dar parçacık boyutu dağılımlarının ölçümleri için uygundur
Micro- und Nanoanalysis _cc781905- 5cde-3194-bb3b-136bad5cf58d_ _cc781905-5cde-3194-bb3b -136bad5cf58d_ _cc781905-5cde -3194-bb3b-136bad5cf58d_ _cc781905-5cde-3194-bb3b- 136bad5cf58d_ _c c781905-5cde-3194-bb3b-136bad5cf58d_ _cc781905-5cde-3194 -bb3b-136bad5cf58d_ _cc781905 -5cde-3194-bb3b-136bad5cf58d_ _cc781905-5cde-3194- bb3b-136bad5cf58d_ _cc781905- 5cde-3194-bb3b-136bad5cf58d_
Yüzey analizi yöntemleri, X-Ray Foto Elektron Spektroskopisi XPS ve Scanning Electronmicroscopeie SEM'dir. Kimyasal bileşimi ve bağlanma durumlarını analiz etmek için kullanılabilirler. Ek derin profil kaydı mümkündür. Yöntemler mikro, 100 nanometre altı ve nanometre ölçeklerinde çalışıyor.
X-ışını fotoelektron spektroskopisi XPS
XPS kullanılarak, powder yüzeyinin kimyasal bileşimi analiz edilir. Sonuç is kimyasal maddelerin dağılımı. Ar püskürtme tekniği ile katıların yüzeyi kaldırılabilir. Böylece profil derinliğine bağlı konsantrasyon değişimi ölçülebilir.
Kimyasal bileşim, Chemical structure ve bağlanma durumları in mikron ölçeği incelenebilir.
-
Chemical 2D card of a XPS yüzey analizi
Kimyasal analiz
ICP-OES eleman taraması
Digestion of your powder sample according DIN EN 13656 and semiquantitative overview analysis_cc781905-5cde -3194-bb3b-136bad5cf58d_using ICP-OES according DIN EN ISO 11885._d04a07d8-9cd1-3239- 9149-20813d6c673b_
Analiz sonucu yarı kantitatif element crawl of 69 elementtir.
RFA Analizi
DIN EN 15309'a göre katı hal genel bakış analizi
Analiz sonucu a semiquantitative element screening (metaller)
